你的位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 電子顯微鏡 > FIB雙束電鏡 >FIB顯微鏡
產(chǎn)品詳細(xì)頁
FIB顯微鏡
- 訪問量：3680
- 更新日期：2023-03-20
- 產(chǎn)品介紹：FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
- 廠商性質(zhì)：代理商
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | FEI/賽默飛 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 聚焦離子束 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
Scios 2 DualBeam系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設(shè)計(jì)，優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)和工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行高級(jí)研究和分析的理想解決方案。
Scios 2 DualBeam可快速輕松的定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。系統(tǒng)配備Thermo Scientific Auto Slice&View軟件，可以高質(zhì)量、全自動(dòng)地采集多種三維信息。無論是在STEM模式下以30kV來獲取結(jié)構(gòu)信息，還是在較低的能量下從樣品表面獲取無荷電信息，系統(tǒng)可在廣泛的工作條件下提供出色的納米級(jí)細(xì)節(jié)。Scios 2 DualBeam可幫助所有經(jīng)驗(yàn)水平的用戶更快、更輕松的獲得高質(zhì)量、可重復(fù)的結(jié)果，此外，系統(tǒng)專為材料科學(xué)中具挑戰(zhàn)的材料微觀表征需求而設(shè)計(jì)，配備了全集成化、極快速M(fèi)EMS熱臺(tái)，可在更接近真實(shí)環(huán)境的工作條件下進(jìn)行樣品表征。
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 特點(diǎn)：
☆ 使用Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡便地制備高質(zhì)量、定位TEM和原子探針樣品；
☆ Thermo Scientific NICol 電子鏡筒可進(jìn)行超高分辨成像，滿足廣泛類型樣品的成像需求；
☆ 各類集成化鏡筒內(nèi)及極靴下探測器，采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無荷電圖像，提供完整的樣品信息；
☆ 高度靈活的110mm樣品臺(tái)和內(nèi)置的Thermo Scientific Nav-Cam相機(jī)實(shí)現(xiàn)樣品導(dǎo)航；
☆ DCFI、漂移抑制技術(shù)和Thermo Scientific SmartScan等模式實(shí)現(xiàn)無偽影成像和圖形加工；
☆ 靈活的DualBeam配置，優(yōu)化解決方案滿足特定應(yīng)用需求。
